安徽大學芯片設計與測試研究所網站設計制作是我司前期安徽大學網站建設代表性項目之一。芯片所網站是典型的科研網站，簡潔明了，內容豐富，架構工整。

安大芯片所網站設計是由我司獨立自主設計制作，網站整體風格簡約美觀，內容模板設置合理，比較實用。一級菜單和二級菜單均采用中英文并列的展示方式，有獨特的設計實用性。芯片所網站設計有常規研究所網站所需要顯示的新聞資訊、研究成果、科研團隊、相關教學等。沒有過多的修飾，直接展示用戶最關注的內容。講究實用性和工整性。

安徽大學芯片設計與測試研究所（以下簡稱芯片所）隸屬于安徽大學計算機科學與技術學院，成立于2021年7月23日，由閆愛斌博士擔任首任所長。

芯片所的成立，旨在在科研經費的支持下快速推動學院科研工作的跨越式發展；旨在宣傳科研團隊在芯片設計與測試領域的前沿工作；旨在吸引校內校外國內國外優秀的青年學者加盟本所；旨在號召優秀的青年學生聯系本所教師攻讀博士和碩士學位；旨在擴大科研團隊在本研究領域的產學研合作范圍和影響力。

2020年9月28日，閆愛斌博士參考合肥工業大學系統結構研究室主頁，在集成電路設計與測試研究室主頁（http://ca.hfut.edu.cn/xyz）基礎上，構思成立安徽大學集成電路研究室。隨后，在集成電路科學與工程即將成為一級學科的大背景下，國內高校相繼成立了集成電路學院，芯片所隨即設立。

近年來，芯片所瞄準國家集成電路產業的重大需求和國際半導體技術藍圖的前沿訴求，開展了宇航芯片冗余容錯的應用基礎研究、芯片可測試性設計與測試的研究、三維芯片硅通孔容錯設計的研究等科研工作。芯片所成員已累計承擔國際、國家、省部級、廳局級項目20余項，授權國際/國家發明專利50余項。芯片所成員在本領域重要的國際期刊和會議如IEEE TC (CCF A類)、IEEE TCAD (CCF A類)、IEEE TCASI (CAA A類)、IEEE TAES (CAA A類)、IEEE TNS (中科院一區TOP期刊)、IEEE TCSVT (CAA A類)、IEEE/ACM DAC (CCF A類)、IEEE TVLSI (CCF B類)、IEEE TR (CAA B類)、IEEE TCASII (CAA B類)、IEEE TETC (影響因子7.691)、IEEE/ACM DATE (CCF B類)、IEEE/IFIP DSN (CCF B類)、IEEE ICCD (CCF B類)，以及電子學報和計算機輔助設計與圖形學學報等國內最頂級期刊（CCF中文A類）上共計發表論文百余篇。此外，閆愛斌所長在國家公派留學訪問日本九州工業大學期間（導師為IEEE Fellow溫曉青教授）合作研究設計高可靠容錯芯片并進行了流片。同時，閆所長訪問日本期間與法國Patrick Girard教授（IEEE Fellow）在意大利會面并建立了堅實的學術研究合作友誼。

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